주요 특징 및 사양 

• 세 가지 주파수 옵션: 1MHz ~ 500MHz/1GHz/3GHz, 업그레이드 가능
• ±0.65%의 기본 정확도 및 120mΩ ~ 52kΩ의 임피던스 범위(10% 측정 정확도 범위)
• 측정 파라미터: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1(1. 옵션 001이 필요함)
• 내장형 DC 바이어스(옵션 001): 0V ~ ±40V, 0A ~ ±100mA
• 10.4인치 컬러 LCD(터치 스크린)의 4채널 및 4트레이스
• 데이터 분석 기능: 동등 회로 분석, 한계선 테스트
• 유전/자성 재료 측정(옵션 002): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
• 온도 특성 측정(옵션 007) 및 신뢰할 수 있는 온웨이퍼 측정(옵션 010) 기능
 
내용

E4991B 임피던스 분석기의 주파수 범위는 1MHz ~ 3GHz입니다. E4991B는 40V 내장형 DC 바이어스 소스(옵션 001)를 통해 넓은 임피던스 범위에 걸쳐 0.65%의 기본 정확도를 제공합니다. 동등 회로 분석 기능은 일곱 개의 멀티 파라미터 모델을 지원하며 자체적인 구성요소 동등 파라미터 값을 시뮬레이션하도록 돕습니다.

세 가지 주파수 옵션(1MHz ~ 500MHz/1GHz/3GHz)과 주파수 업그레이드를 통해 최근의 투자액에 가장 적절한 옵션을 선택할 수 있습니다.

재료 측정 옵션은 온도 특성 분석 기능(옵션 007)과 유전율 및 투과도의 직접 판독 기능(옵션 002)을 제공합니다.

프로브 스테이션 연결 키트(옵션 010)는 최대 3GHz의 정확한 온웨이퍼 또는 마이크로 구성요소 임피던스 측정 솔루션을 제공합니다.

E4991B는 간단하고 신뢰할 수 있는 측정을 수행하도록 설계된 광범위한 테스트 액세서리를 지원합니다.

R&D 팀이거나 QA 또는 검사 팀에 상관 없이, E4991B는 전자 구성요소, 반도체 디바이스 및 재료의 특성을 분석하고 평가하기 위한 이상적인 솔루션입니다.

어플리케이션 예제:
• 패시브 구성요소: 커패시터, 인덕터, 페라이트 비드, 저항기 또는 크리스털/세라믹 공진기와 같은 칩 구성요소의 임피던스 측정
• 반도체 구성요소: 버랙터 다이오드의 C-V 특성 분석 및 등가 직렬 저항 측정
• 유전 물질: 플라스틱, 세라믹, 인쇄회로기판의 유전율 및 손실 탄젠트 평가
• 자성 재료: 페라이트, 비결정질 및 기타 자성 재료의 투과도 및 손실 탄젠트 평가